مكون الختم عالية الدقة اختبار التسطيح
التطبيقات
لاختبار التسطيح عالي الدقة لمكونات الختم ، مثل حلقات الختم.
مبدأ العمل
تعتمد تقنية اختبار التسطيح على الكشف المتكامل متعدد الفتحات.
سمات
| نموذج | FT-SC-X— X |
|
عيار الكشف الأقصى |
≥Φ200mm (قابل للتخصيص) |
| قناع | ≤Φ40mm ، تثبيت مرآة النافذة |
| الطول الموجي التشغيلي | 633 نانومتر |
| مجال التشغيل للرؤية | ≥ ± 2 ' |
| تم الكشف عن الحد الأدنى لحجم النطاق | 4 مم |
| دقة الكشف (PV) | ≤0.2um ، الفرقة 4 مم
(كلما كان عرض قطعة العمل أوسع ، زادت الدقة) |
|
ملاحظة: الإنتاج حسب الطلب متاح. |
|
إيجابياتنا
نحن مصنع.
عملية ناضجة.
الرد خلال 24 ساعة عمل.
شهادة الأيزو الخاصة بنا
أجزاء من براءات الاختراع لدينا
أجزاء من جوائزنا ومؤهلاتنا للبحث والتطوير
تُباع منتجاتنا في جميع أنحاء العالم ، ويمكنك أن تطمئن إلى العملية الكاملة لمنتجاتنا.
